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RCDクランプスナバ計算ツール — フライバックの漏れインダクタンス用クランプ回路

フライバックコンバータのドレイン電圧スパイクを抑えるRCDクランプを設計します。漏れインダクタンス、ピーク電流、クランプ電圧から、反射電圧係数を含むクランプ電力、クランプ抵抗とクランプコンデンサ、ドレインピーク電圧、ダイオードに必要な逆電圧定格を求めます。

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公式

Psn=12LlkIpk2fsVsnVsn−nVo,Rsn=Vsn2Psn,Csn=VsnΔVsnRsnfs,Vds,pk=Vin,max+VsnP_{sn} = \tfrac{1}{2} L_{lk} I_{pk}^2 f_s \frac{V_{sn}}{V_{sn} - nV_o},\quad R_{sn} = \frac{V_{sn}^2}{P_{sn}},\quad C_{sn} = \frac{V_{sn}}{\Delta V_{sn} R_{sn} f_s},\quad V_{ds,pk} = V_{in,max} + V_{sn}

参考: Koo, Design Guidelines for RCD Snubber of Flyback Converters, Fairchild AN-4147, Rev. 1.1.0 (2006), Eqs. (2)–(5)

L_{lk}— 一次側漏れインダクタンス (µH)
I_{pk}— ターンオフ時の一次側ピーク電流 (A)
f_s— スイッチング周波数 (kHz)
nV_o— 反射出力電圧 (V)
V_{sn}, \Delta V_{sn}— クランプ電圧とそのリップル (V)
P_{sn}, R_{sn}, C_{sn}— クランプ電力、クランプ抵抗、クランプコンデンサ (W, kΩ, nF)
V_{ds,pk}— ドレインピーク電圧(ダイオードもこの電圧を阻止する必要がある) (V)

仕組み

フライバックコンバータでは、一次側の磁束がすべて二次側と鎖交するわけではありません。鎖交しない分が漏れインダクタンス LlkL_{lk} で、MOSFETがオフになると、そこを流れていた電流は行き場を失います。この電流がMOSFETの出力容量を充電し、ドレイン電圧は入力電圧と反射出力電圧の和 Vin+nVoV_{in} + nV_o をはるかに超えて跳ね上がります。RCDクランプはこのスパイクを吸収します。ドレインにつないだダイオードが、入力電源ラインより VsnV_{sn} 高いクランプ電圧に保たれたコンデンサを充電し、コンデンサと並列の抵抗がそのエネルギーをサイクルごとに消費します。

クランプ電力

クランプが導通している間、二次側が磁化インダクタンスの電圧を nVonV_o に保つため、漏れインダクタンスには Vsn−nVoV_{sn} - nV_o が加わり、その電流がピーク値 IpkI_{pk} からゼロまで減少する時間は次のとおりです。

ts=LlkIpkVsn−nVot_s = \frac{L_{lk} I_{pk}}{V_{sn} - nV_o}

クランプは1サイクルあたり VsnIpkts/2V_{sn}I_{pk}t_s/2 のエネルギーを吸収するので、FairchildのアプリケーションノートAN-4147(Koo、Rev. 1.1.0、2006年)のクランプ電力が得られます。

Psn=12LlkIpk2fsVsnVsn−nVoP_{sn} = \tfrac{1}{2} L_{lk} I_{pk}^2 f_s \frac{V_{sn}}{V_{sn} - nV_o}

前半の項は漏れインダクタンスに蓄えられたエネルギーです。係数 Vsn/(Vsn−nVo)V_{sn}/(V_{sn} - nV_o) は、漏れ電流が減少する間にトランスがクランプへ送り込む余分なエネルギーを表します。クランプ電圧が反射電圧の2倍なら係数は2で、VsnV_{sn} が nVonV_o に近づくにつれて際限なく大きくなります。nVonV_o 以下ではクランプが常に導通して出力電力を運んでしまうため、計算ツールはこの値を受け付けません。AN-4147では、VsnV_{sn} を nVonV_o の2~2.5倍にすることを推奨しています。

抵抗、コンデンサ、電圧ストレス

抵抗の消費電力は Vsn2/RsnV_{sn}^2/R_{sn} なので、Rsn=Vsn2/PsnR_{sn} = V_{sn}^2/P_{sn} です。コンデンサは、許容リップル ΔVsn\Delta V_{sn}(通常は VsnV_{sn} の5~10%)から次のように決めます。

Csn=VsnΔVsnRsnfsC_{sn} = \frac{V_{sn}}{\Delta V_{sn} R_{sn} f_s}

クランプを入力電源ラインに戻す構成では、ドレイン電圧のピークは Vin,max+VsnV_{in,max} + V_{sn} となり、MOSFETがオンの間はダイオードが同じ電圧を阻止します。AN-4147では、定常状態のピークをMOSFETの定格電圧の80%未満に抑え、ダイオードにはそれより高い定格の超高速ダイオードを使うよう求めています。

適用範囲

これらの式は、クランプコンデンサの電圧がスイッチング周期の間一定であることを前提としています。AN-4147はリップル10%まではこれが成り立つとしており、それを超えると計算ツールは警告を表示します。また、漏れ電流がスイッチング周期内にゼロまで減少することも前提としていますが、tst_s が周期より長いとそうはなりません。この場合も警告を表示します。どちらの場合も値は表示されます。漏れインダクタンスとピーク電流には、AN-4147が用いる設計点、つまりクランプ電力が最大になる最小入力電圧・全負荷時の値を使ってください。

計算例

問題: 85~265 V AC入力のオフラインフライバックコンバータが65 kHzでスイッチングします。最大DC入力電圧は375 V、反射出力電圧は100 V、測定した一次側漏れインダクタンスは8 µH、最小入力・全負荷時の一次側ピーク電流は1.2 Aです。リップル8%で、220 V(反射電圧の2.2倍)にクランプします。

ステップ1 - 漏れエネルギーのみ: ½ × 8 µH × (1.2 A)² × 65 kHz = 0.374 W

ステップ2 - 反射電圧係数とクランプ電力: 220 / (220 − 100) = 1.833 P_sn = 0.374 W × 1.833 = 0.686 W

ステップ3 - クランプ抵抗: R_sn = (220 V)² / 0.686 W = 70.5 kΩ

ステップ4 - クランプコンデンサ: ΔV_sn = 8% × 220 V = 17.6 V C_sn = 220 / (17.6 × 70.5 kΩ × 65 kHz) = 2.73 nF

ステップ5 - 電圧ストレス: V_ds,pk = 375 V + 220 V = 595 V。したがって、ダイオードも595 Vを阻止できる必要があります。

ステップ6 - ダイオードの導通時間: t_s = 8 µH × 1.2 A / (220 − 100) V = 80 ns。15.4 µsの周期に対して十分に短い値です。

800 VのMOSFETなら595 VはAN-4147の80%ルールの範囲内に収まり、クランプダイオードには定格800 V以上の超高速ダイオードを使います。クランプ電圧を150 Vにすると損失は1.12 W(係数3)になり、250 Vにすると0.624 Wに下がりますが、ドレイン電圧は625 Vまで上がります。

実践的なヒント

  • ✓AN-4147の推奨どおり、まず V_sn を反射電圧の2~2.5倍に設定し、そこからクランプ損失とドレイン電圧のバランスを調整してください。
  • ✓クランプ抵抗は消費電力の2倍以上の定格のものを、コンデンサは V_sn に余裕を持たせた耐圧のものを選んでください。フィルムコンデンサや高耐圧のC0Gコンデンサなら、その電圧でも容量値が保たれます。
  • ✓まず漏れインダクタンスを減らしてください。サンドイッチ巻き(インターリーブ巻線)と良好な結合は、RとCをどう選ぶよりもクランプ電力を下げます。
  • ✓実機で確認してください。定常状態のドレインピーク電圧はMOSFETの定格の80%未満、起動時のピークは90%未満に収める必要があります(AN-4147)。
  • ✓BOMまたはKiCad回路図をエクスポートすると、電流、電力、電圧に合わせて選定されたダイオード、抵抗、コンデンサが得られます。ダイオードはドレインから、RとCはクランプノードから入力電源ラインへ接続されます。

よくある間違い

  • ✗クランプ抵抗を漏れエネルギー ½·L·I²·f だけから決めてしまう。クランプは、漏れ電流が減少する間にトランスが送り込むエネルギーも吸収します。クランプ電圧が反射電圧の2倍なら、そのために電力は2倍になります。
  • ✗クランプ電圧を反射電圧よりわずかに高い値に設定してしまう。すると損失係数 V_sn/(V_sn − nV_o) が非常に大きくなり、クランプが出力電力を運び始めます。
  • ✗1N4007のような一般整流用(標準リカバリ)ダイオードを使ってしまう。逆回復が遅いため、クランプコンデンサがサイクルごとにドレイン側へ放電して戻ってしまいます。MOSFETのブレークダウン電圧より高い定格の超高速ダイオードを使ってください。
  • ✗二次側を開放したまま漏れインダクタンスを測定してしまう。漏れインダクタンスは、すべての二次巻線を短絡した状態で一次側から測定する必要があります。
  • ✗ドレイン電圧を最小入力時にしか確認しない。ドレインピーク電圧は V_in,max + V_sn なので、最大入力電圧で確認する必要があります。

よくある質問

クランプが導通している間、漏れ電流がゼロになるまで、トランスの反射電圧がクランプに電流を流し込み続けます。これにより nV_o に比例したエネルギーが加わり、係数 V_sn/(V_sn − nV_o) はこの分を表しています。クランプ電圧が反射電圧の2倍なら、クランプは漏れエネルギーの2倍の電力を消費します。
AN-4147では、反射出力電圧の2~2.5倍を推奨しています。損失係数は V_sn = nV_o に近づくと急激に大きくなるため、クランプ電圧が低いほど損失は増えます。クランプ電圧を高くすると損失は減りますが、ドレインピーク電圧 V_in,max + V_sn が上がります。
MOSFETがオンの間、ドレインはほぼグランド電位で、クランプノードは V_in + V_sn にあるため、ダイオードはドレインピーク電圧と同じ V_in,max + V_sn を阻止します。AN-4147では、MOSFETのブレークダウン電圧より高い定格の超高速タイプを推奨しています。
1サイクルの間に電圧がほとんど変化しない程度の大きさです。C_sn = V_sn / (ΔV_sn·R_sn·f_s) で、ΔV_sn は通常 V_sn の5~10%にします。コンデンサを大きくするとリップルは減りますが、起動時に電圧が落ち着くまでの時間が長くなります。
RCスナバはリンギングを減衰させますが、動作条件にかかわらず常に C·V²·f の電力を消費します。フライバックのドレインに、漏れエネルギーを吸収できるほど大きなコンデンサで付けると、その損失はクランプよりはるかに大きくなります。両者はよく組み合わせて使われ、スパイクにはRCDクランプ、残ったリンギングには小さなRCスナバを用います。

方法論と参考文献

参考文献

  • Design Guidelines for RCD Snubber of Flyback Converters — Gwan-Bon Koo, Fairchild Semiconductor Application Note AN-4147, Rev. 1.1.0 (2006) — Eqs. (1)–(5), pp. 2–3: conduction time, clamp power, resistor and capacitor; pp. 3–4: diode choice, the 80% drain-voltage rule and the FSDM311 design example, Eqs. (9)–(11)
  • Snubber Circuits: Theory, Design and Application — Philip C. Todd, Unitrode Corporation (May 1993), TI literature SLUP100 — p. 2-7: the RCD voltage snubber in clamp mode, its resistor returned to the input bus, dissipating the leakage energy ½·L·I²·f plus the energy from the reflected voltage

Reproduces AN-4147's design example (14 kΩ, 1.6 W and, by its Eq. (11), 10.66 nF; 525 V predicted against the 524 V measured in its Figure 7); a clamp at twice the reflected voltage doubles the leakage energy, and a large clamp voltage tends to the leakage energy alone.

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