クリスタル PPM トレランスと周波数エラー計算ツール
ppm 単位の結晶許容誤差を Hz 単位の絶対周波数誤差に変換します。1 日あたりの秒単位のクロックドリフトを使用して、初期許容誤差、温度安定度、経年劣化をワーストケースと RSS バジェットに積み重ねます。
公式
参考: IEEE 177 quartz resonator definitions; typical AT-cut crystal datasheet parameters
仕組み
ppmは分数誤差です。1ppmは100万分の1を意味するので、 です。同じグレードの水晶でも、ある設計では優れていても、別の設計では使用できないのは、このような単一の関係があるためです。32.768kHzでは、 ppmは Hzで、目に見えません。25 MHz では、同じ ppm は Hz で、そのリファレンスから合成された 2.4 GHz のキャリアでは kHz になり、チャンネル精度の要件を満たすのに十分満足できます。
水晶データシートには公差値は1つではなく、3つあり、それぞれ個別に規定されています。初期公差またはキャリブレーション公差とは、25 °Cでのトリム精度、つまり出荷日に部品が公称値にどれだけ近いかを表します。周波数対温度の安定性とは、動作範囲全体で部品がどれだけ移動するかを表します。ATカット水晶の場合、これは25°C近くの変曲を伴う3次曲線です。そのため、この仕様は係数ではなく全偏差として引用されています。経年劣化とは、取り付け時の応力緩和と電極での物質移動による不可逆的な長期的変動であり、年平均で見積もられますが、初年度は最大です。
この3つは、必要に応じ、2つの異なる方法で組み合わされます。算術和 が保証限界です。つまり、どのような状態であっても、その寿命のどの時点においても、どの単位もそれを超えることはありません。これは、プロトコルのマージンや規制による周波数精度の要件が存続しなければならない数値です。二乗和平方根 は、3つのメカニズムには相関がないと仮定していますが、その大部分は相関関係にあり、本番環境全体にわたる現実的な分散について説明しています。この方法は常に 2 つのうち小さい方であり、保証された制限が必要だった場合にこの手法を使用することが、設計が認定に合格し、現場で不合格となる仕組みです。
ppm は分数レートなので、余計な物理演算を行わずにタイムキーピングに直接反映されます。1 ppm は 1 秒あたり 1 マイクロ秒、1 日あたり 86.4 ミリ秒、1 年あたり 31.5 秒です。この変換が ppm をリアルタイムクロックの自然な単位にしている理由です。 ppm の RTC は 1 年あたり 、1 年あたり 分までドリフトします。そのため、カレンダー精度の高い製品には ppm TCXO または定期的なネットワーク時間補正が必要です。
計算例
線形累積法は、年単位の仕様を控えめに計算したものです。実際の結晶はほぼ対数的に経年変化するため、2 年目と 3 年目を過大評価しています。
ステップ 2: ワーストケースの算術和 ppm ステップ 3: 現実的な二乗和の平方根 ppm統計的な数値は、保証限界値(設計対象と通常測定対象との差)よりも 40% 小さくなっています。
ステップ 4: 絶対周波数誤差 ヘルツ ステップ 5: 周波数制限 ヘルツ ヘルツ両端間の合計スパン: Hz
ステップ 6: タイムキーピングドリフト /日1 年以上: 分
結果: ワーストケースでは ppm、25 MHzでは Hz、1 日あたり最大 3.8 秒のクロックドリフトが発生しました。イーサネットPHYで許容される ppmをはるかに超えていますが、カレンダー時間を単独で記録しなければならない製品にとっては緩すぎます。実践的なヒント
- ✓クリスタルのサイズは、平均的なコンシューマーではなく、リファレンスの最もタイトなコンシューマーに対して行ってください。1つの設計で、数千ppmを許容するUARTと10ppmを許容する無線シンセサイザに給電できます。
- ✓リアルタイムクロックの場合は、設計の早い段階で1日あたりの秒数に直接変換します。プラスまたはマイナス20 ppmは1日あたり1.73秒であり、ほとんどの人は、ppmの数値よりも製品要件と照らして判断する方がはるかに簡単だと感じています。
- ✓温度安定性項が優先される場合は、通常、初期許容誤差を厳しくするよりもTCXOの方が安価です。初期調整の改善には費用がかかり、広い範囲の設計では通常、温度が3つの条件のうち最大になります。
- ✓密封された製品や手が届かない製品については、予算を十分に経年劣化させてください。ネットワーク経由で再同期できるデバイスは、同期の合間に正確さを維持するだけでよく、製造終了時の番号をすべて把握する必要がないデバイスには必要ありません。
- ✓何よりもまず、指定された負荷容量を確認してください。CLの誤りは、クリスタルの許容誤差を超える最も一般的な原因であり、購入の決定というよりは、レイアウトと部品の選択です。
よくある間違い
- ✗データシートの見出しにある初期公差のみを使用した場合、プラスまたはマイナス20ppmと記されている部品は、25℃で20ppmとなり、その上に温度と経年変化を加算する必要がありますが、実際の耐用年数は多くの場合、見出しの数値の2〜3倍です。
- ✗保証限度が必要な場合の二乗和の二乗法 — RSSは生産スプレッドを表し、境界は記述しません。プロトコルへの準拠、規制頻度の精度、ワーストケースのリンクマージンのすべてに算術和が必要です。
- ✗負荷容量のミスマッチを忘れてください。実際の15pFの負荷に対して12pFと規定されている水晶は、データシートの各項を合わせた値よりも数十ppmも引っ張られますが、データシートのすべての用語の合計値を超えることが多く、いずれにも現れません。
- ✗年ごとの経年劣化の数値を10~15年かけて直線的に適用する。これは意図的に控えめな値であり、3~5倍も過大評価する可能性があり、不必要に高価な部品になってしまう可能性がある
- ✗2つのクロックを比較し、1つの水晶の許容誤差のみを使用します。2つの独立した発振器を同期させる必要がある場合、相対誤差は両方のバジェットの合計になるため、2つのプラスまたはマイナス30ppmの部品が60ppm異なる場合があります。
よくある質問
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